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Hunan Greber Electronic Technology Co., Ltd.
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Hunan Greber Electronic Technology Co., Ltd.

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Quanto custa o sistema de teste de pulso TLP

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Visão geral

O sistema de teste de pulso TLP é um sistema portátil de caracterização de curva IV de pulso para simular eventos de pulso de descarga eletrostática, como TLP, vf-TLP, HMM, HBM, EFT e surges de baixa tensão. O sistema detecta tensões transitórias e formas de onda de corrente em picossegundos ou nanossegundos durante o pulso e testa o estado dos dispositivos medidos antes e depois do pulso (corrente de vazamento, tensão de ruptura, corrente de desvio, curva IV estática, etc.), os DUTs medidos incluem dispositivos de proteção eletrostática, semicondutores, módulos de circuito, sensores de touchpad, etc.

Detalhes do produto

As funções de teste e análise de pulso de linha de transmissão (TLP) do sistema estão em conformidade com o padrão de teste ANSI/ESD STM5.5.1-2014. O sistema ES620 é capaz de injetar pulsos de onda retangular de alta qualidade no dispositivo, ao mesmo tempo que registra a corrente que passa pelo dispositivo e a tensão em ambas as extremidades do dispositivo. Os resultados do teste fornecem curvas IV pulsadas que permitem ao usuário caracterizar a resposta transitória do dispositivo em nanosegundos. O sistema também possui métodos de detecção automatizados de falhas de dispositivos, como testes de corrente de vazamento, curvas IV estáticas, fusão e descarga de faísca.

As funções de teste e análise do TLP ultra-rápido (vf-TLP) estão em conformidade com o padrão de teste ANSI/ESD SP5.5.2-2007. O teste vf-TLP é usado para simular descargas eletrostáticas a velocidade do CDM, capturando a corrente e a tensão do dispositivo em um estado de alta velocidade (cerca de 100ps ao longo do aumento). O usuário pode testar a velocidade de resposta e a tensão máxima do dispositivo com esse método.

A função de teste e análise do Modelo de Metal do Corpo Humano (HMM) está em conformidade com o método de teste ANSI/ESD SP5.6-2009, que substitui o método de teste ESD de nível de sistema médio IEC61000-4-2 para testes de IC. Ao testar dispositivos de baixa impedância ou wafers, essa função de teste do sistema fornece a forma de onda ideal em conformidade com o padrão IEC61000-4-2 e evita muitos problemas que podem surgir durante os testes de pistolas de descarga eletrostática, como má repetibilidade, posição de descarga incorreta, interferência EMI causada por relés não blindados e a necessidade de configurar pisos grandes e placas de acoplamento.

O sistema tem controle de software completo, elevação personalizada ao longo do tempo e largura de pulso, boa compatibilidade com instrumentos IVI e tamanho pequeno.

Sistema de teste de pulso TLPCaracterísticas:

Configurar um sistema flexível de análise de testes de pulso de curva TLP IV

Design ultraportátil

Velocidade de teste ultra-rápida, processamento paralelo do programa

A versão de teste atual tem módulos 25A, 50A e 100A

Pulsos TLP de alta qualidade

Módulos de teste escaláveis incluem vf-TLP, HMM, HBM e sobretensão de baixa tensão

Os métodos automatizados de detecção de falhas incluem: amostragem de CC (tensão ou corrente), IV estática, fusão, ruptura, flutuação de fonte de viés e personalização do cliente

Injeção de pulso controlada por software: única, contínua, caracterização de curva IV

Opções de subida ao longo: 60ps a 50ns (dependendo do módulo)

Opção de largura de pulso: 1ns a 3200ns (dependendo do módulo)

Sistema de teste de pulso TLPAplicação:

Teste de ESD em nível de wafer

Teste de ESD em nível de PCB/embalagem

Teste ESD de sistema/circuito

Teste de Área de Trabalho Segura (SOA)

Teste de tempo de recuperação de carga

Injeção de pulso ESD diferencial

Teste de fusão de cabo de microbanda de tela táctil ITO

Teste de descarga de faísca de cabo de microbanda ITO de tela táctil

Impulsos de corrente de injeção TLP cumprem e superam o padrão ANSI/ESD STM 5.5.1-2008

Impulsos de corrente de injeção vf-TLP cumprem e superam o padrão ANSI/ESD SP5.5.2-2007

Para dispositivos de baixa impedância, o impulso de corrente de injeção do HMM é compatível com a forma de onda IEC61000-4-2

Especificações:

Sistema de teste de curva IV baseado em impulsos de linha de transmissão ES620

Parâmetros

ES620-25

ES620-50

ES620-100

Unidade

Observação

Tensão de saída de circuito aberto

±0.5~1250

±0.5~2500

±0.5~5000

O V


Tensão de saída com carga de 50 Ω

±0.25–625

±0.5~1250

±0.5~2500

O V


A baixa tensão de pequenos passos de tensão em cargas de 50Ω – 40V

0.01

0.01

0.02

O V

Supressão de reflexos de 46dB

Pequeno passo de tensão 40V para alta tensão com carga de 50Ω

0.1

0.1

0.2

O V

Supressão de reflexos de 6dB

Erro de tensão de saída

<5%<>

%

Depois da calibração

Corrente de saída de curto circuito

±0.01~25

±0.02~50

±0.04~100

Um


Corrente de saída com carga de 50 Ω

±0.005~12.5

±0.01~25

±0.02~50

Um


Potência máxima com carga de 50 Ω

≥7.813

≥31.25

≥125

kW


Aumento do TLP ao longo do tempo

≤0.2

≤0.2

≤0.3

ns

ES620-25 até 60ps

Outras opções de aumento ao longo do tempo

0.06~50

ns

Para o modelo, veja a tabela 2.

Largura de pulso TLP

100±1

ns

personalizado

Outras opções de largura de pulso

1~3200

5~1000

5~1000

ns

Para o modelo, veja a tabela 3.

Tempo de intervalo de teste

Geralmente entre 0,2 e 2

s

Relacionado com osciloscópios, SMUs e regulamentos

dimensão

347X300X145

milímetros


Peso

5

6

8

quilogramas


Medição direta I&V

Sonda de medição direta I&V A6213-T1 (sonda de corrente CT-2 e sonda de tensão tipo 1KT)


Oscilloscópio disponível

A maioria dos modelos Tektronix, Agilent, LeCroy, Rigol

Outros modelos podem ser suportados de acordo com as necessidades do cliente

Compatível com SMU

SMU da série Keithley 24xx/26xx

Outros modelos podem ser suportados de acordo com as necessidades do cliente

ES620-HMM1 módulo de modelo de corpo humano expandido (DUT para curto-circuito, 100ΩHMM, baseado no padrão ANSI/ESD SP5.6-2009)

parâmetro

ES620-25

ES620-50

ES620-100

Unidade

Observação

Corrente máxima HMM

22.5

45

90

Um


3.75A≤±10% por kilovolt

IEC 61000-4-2 (R=330) Ω, C = 150pF)

Corrente HMM em 30ns

12

24

48

Um

≤±10% (superior a ±30% do IEC)

Corrente HMM em 60ns

6

12

24

Um

≤±10% (superior a ±30% do IEC)

Módulo de Modelo Humano Expandido ES620-HBM1 (ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2014 R=1,5kΩ, C=100pF)

TLP传输线脉冲测试系统

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