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Hunan Greber Electronic Technology Co., Ltd
Ofertas de sistemas de teste de bloqueio e eletrostática ESD
NegociávelAtualização em01/12
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Visão geral
O sistema de teste de descarga eletrostática e bloqueio ES660 é um dispositivo de teste automático de múltiplos pinos projetado para atender aos rigorosos requisitos dos testes modernos de semicondutores. Este dispositivo multifuncional foi projetado para suportar sem problemas o modelo humano (HBM), o modelo de máquina (MM) e os testes de bloqueio, oferecendo uma solução abrangente para avaliar a confiabilidade e robustez de circuitos integrados (IC) e componentes eletrônicos. A configuração ES660-P1 suporta até 1.280 pinos e é ideal para testar IC complexos e componentes eletrônicos com um grande número de conexões. Isso reduz o tempo de teste e aumenta a produtividade.
Detalhes do produto
ES660 Sistema de teste de descarga eletrostática e bloqueio
1. Descrição
O sistema de teste de descarga eletrostática e bloqueio (LU) da série ES660 é um dispositivo de teste automático de múltiplos pinos projetado para atender aos rigorosos requisitos dos testes modernos de semicondutores. Este dispositivo multifuncional foi projetado para suportar sem problemas o modelo humano (HBM), o modelo de máquina (MM) e os testes de bloqueio, oferecendo uma solução abrangente para avaliar a confiabilidade e robustez de circuitos integrados (IC) e componentes eletrônicos. O ES660 é uma versão atualizada da série ES612A com opções de configuração mais elevadas.
A configuração ES660-P1 suporta até 1.280 pinos e é ideal para testar IC complexos e componentes eletrônicos com um grande número de conexões. Sua alta capacidade de número de pinos garante uma avaliação precisa e eficiente de grandes equipamentos, reduzindo o tempo de teste e aumentando a produtividade.
Se for necessário um número maior de pinos, a configuração ES660-P1 pode ser atualizada para ES660-P2 (até 2560 pinos).
2. Características
Compatível com vários métodos de teste e padrões
Configuração altamente flexível de desvios e números de pinos
Eficiência de testes automatizados
Excelente controle e monitoramento
Escaneamento de vazamentos e corrente contínua
análise de dados
Cabeça de descarga múltipla, software de comutação automática
3. aplicação
Teste ESD de dispositivos semicondutores
Módulos HBM em conformidade com ANSI/ESDA/JEDEC JS-001, MIL-STD-883E, AEC Q100-002
Módulo MM em conformidade com ANSI/ESDA SP5.2
Teste de bloqueio conforme JEDEC JESD78
Bloqueios transitórios em conformidade com ANSI/ESD SP5.4.1
4. especificação
Unidade básica ES660
| parâmetro | ES660 | Unidade | Observação |
| Tela de toque | 5 | polegadas | |
| dimensão | 480 x 497,5 x 265 | milímetros | |
| Peso | 28 | quilogramas | Instalação completa |
| ESD 和 LU 波形 | Sondas de tensão e corrente passivas opcionais | ||
| Oscilloscópios suportados | Modelos principais da Keysight, Tektronix, LeCroy e Rigol | Personalizável | |
| SMU suportado | Modelos principais da Keysight, Tektronix, LeCroy e Rigol | Personalizável | |
| Alimentação suportada | Modelos principais da Keysight, Tektronix, LeCroy e Rigol | Personalizável |
Opções de modelo humano da HBM
(ANSI / ESDA / JEDEC JS-001)
| parâmetro | ES660-P1-HBM8 (em inglês) | ES660-P1-HBM10 | Unidade | Observação |
| Tensão de saída | ±10～8000 | ±10～10000 | O V | |
| Valor RC de descarga | C: 100 pF ± 10%, R: 1.5k Ω ± 1% | |||
| Curto-circuitoCorrente de pico de cargaEup.s. | 0,67 ± 10 % por kV | Um | ||
| Curto-circuitoTempo de aumento da cargatRs | 2 < tRs< 10 | ns | ||
| Curto-circuitoTempo de decadência da cargatds | 130 < tds< 170 | ns | ||
| Curto-circuitoCampainha TRs | < Eup.s.15% dos | |||
| 500ΩPico de cargaCorrenteEuPr | EuPr/ Eup.s.≥ 63% | |||
| 500ΩTempo de aumento da cargatrr | 5 < trr< 25 | ns | ||
| O mais rápidoVelocidade de pulso | 10 | um/segundo | ||
| Número de pulsos simultâneos | >=8 | Mais de 512 pinos | ||
Opções do modelo MM
(ANSI/ESD SP5.2)
| parâmetro | ES660-P1-MM2 | ES660-P1-MM4 (em inglês) | Unidade | Observação |
| Tensão de saída | ±10 ~ 2000 | ±10 ~ 4000 | O V | |
| Valor RC de descarga | C: 200 pF, R: 0 Ω | |||
| Curto-circuitoCargaCorrente máximaEuP1 | 1,75±10% por 100V | |||
| Curto-circuitoCargaEup2 | EuP167% a 90% | |||
| Curto-circuitoCiclo de pulso de cargattarde | 66 < ttarde< 90 | |||
| 500Ω pico de cargaCorrenteEuPr | 0.85 – 1.2 | @ 400 V em conformidade com os padrões | ||
| 500ΩCargaEu100 | 0.23 – 0.4 | @ 400 V em conformidade com os padrões | ||
| Velocidade de pulso mais rápida | 10 | um/segundo | ||
| Número de pulsos simultâneos | >=8 | Mais de 512 pinos | ||
DC & Opções de bloqueio
(JEDEC JESD78F.01)
| parâmetro | ES660-P1-LU | Observação |
| Vetor de pré-processamento | ≥ 20 MHz, profundidade de 256K | Configurações externas |
| V / I 4Medição Kelvin | sim | |
| Alimentação de ônibus DUT V/I | 3 + 1, 5 + 1, 7 + 1 | Suporte para extensões externas de fonte DC |
| Captura de forma de onda LU | sim | |
| MatrizDCtensão | 200 volts | |
| SSO R MatrizDCtensão(V) | 100V | |
| PinosDCCorrente | 2A | |
| Corrente do canal DC | 15A | |
| Tensão de fonte de bloqueio padrão | >= 150V | Limite de corrente 1.2 A |
| padrãoFunção de corrente de bloqueio | >= 10A | Tensão 6 V |
Opções de bloqueio temporário TLU
(ANSI/ESD SP5.4.1)
PlanoSuporte de hardware para bloqueio de fontes de pulso transitórias:
ES622 (TLP/ VF–TLP)EOS- 500 (EOS),LVS-500 (LVS),MM
5. Informações de encomenda
| Número | modelo | Descrição |
| Opções básicas da unidade | ||
| 1.1 | ES660-P1-BU (em inglês) | Unidade de base do sistema ATE HBM/MM/LU com base em relés |
| 1.2 | ES660-P1-HBM8 (em inglês) | Opções de teste de modelos HBM, voltagem até 8 kV |
| 1.3 | ES660-P1-HBM10 | Opções de teste de modelos HBM, tensão até 10 kV (parada de produção) |
| 1.4 | ES660-P1-MM2 | Opções de teste do modelo MM, tensão até 2 kV |
| 1.5 | ES660-P1-MM4 (em inglês) | Opção de teste do modelo MM, tensão até 4 kV (parada de produção) |
| 1.6 | ES660-P1-LU | Opções de teste de bloqueio (software) |
| 1.7 | ES660-P1-TLU | Opções de teste de bloqueio transitório (software – TLP, EOS) |
| 1.8 | ES660-TFM | Módulo de controle de temperatura |
| RelaiscartãoSelecção de viés DC | ||
| 2.1 | ES660-P1-R64B4 (em inglês) | Cartão de relé de extensão, 64 pinos, desvio 3+1 |
| 2.2 | ES660-P1-R64B6 (em inglês) | Cartão de relé de extensão, 64 pinos, desvio 5+1 |
| 2.3 | ES660-P1-R64B8 (em inglês) | Cartão de relé de extensão, 64 pinos, desvio 7+1 |
| corrente contínua,vazamento elétricoeBloqueioOpções de fonte de pulso | ||
| 3.1 | ES660-PSMU2 | Fonte de fuga \DC \LU: SMU de pulso de dois canais (210V/1.5A) |
| 3.2 | ES660-SMU1 | Fonte de corrente contínua: SMU de canal único (200V/1A) |
| 3.3 | ES660-PSU1 | Alimentação DC: PSU de canal flexível (32V/3A X 2 Ch + 6V/5A X 1 Ch ou 70V/3A X 1 Ch ou 32V/6A X 1 Ch + 6V/5A X 1 Ch) |
| 3.4 | ES660-PSU2 | Alimentação DC: PSU de 3 canais (60V/3A X 2 Ch + 5V/3A X 1 Ch ou 125V/3A X 1 Ch) |
| 3.5 | ES660-PSU3 | Alimentação DC: PSU de alta corrente (20V/20A X 1 Ch) |
| 3.6 | ES660-PSU4 | Alimentação DC: PSU de alta corrente (30V/25A X 1 Ch) |
| 3.7 | ES660-PSU5 | Alimentação DC: 3 canais PSU (30V/6A X 2 Ch, 5V/3A X 1 Ch ou 60V/6A X 1 Ch) |
| 3.8 | ES660-PSU7 | Alimentação DC: Dual-Range PSU (100V/1A ou 30V/5A) |
| 3.9 | ES660-PSU-MC1 | PSU multicanal: quadro principal, com osciloscópio |
| 3.10 | ES660-PSUC1 (em inglês) | PSU multicanal: módulos 50V, 5A, 50W |
| 3.11 | ES660-PSUC2 | PSU multicanal: módulos 50V, 10A, 100W |
| 3.12 | ES660-PSUC3 | PSU multicanal: módulos 60V, 5A, 300W |
| 3.13 | ES660-PSUC4 | PSU multicanal: módulos 100V, 1A, 100W |
| 3.14 | ES660-PSUC5 | PSU multicanal: módulos 100V, 3A, 300W |
| 3.15 | ES660-PSUC6 | PSU multicanal: módulos 150V, 2A, 300W |
| Teste de opções de tomada | ||
| 4.1 | ES660-P1-DS512 | DUT socket PCB 512 pinos |
| 4.2 | ES660-P1-DS1024 (em inglês) | DUT socket PCB 1024 pinos |
| 4.3 | ES660-P1-DSC1 | Número de pinos personalizados para PCB de saída DUT |
| Opções do osciloscópio | ||
| 5.1 | MISC-OSC350 | Oscilloscópio digital (350 MHz, 4 canais) |
| 5.2 | MISC-OSC1 | Osciloscópio Digital (1 GHz, 5 GS/s, 4 Ch) |
| 5.3 | CT-T03-1p0 | Sonda de corrente de banda larga, 1V/A, 2kHz – 2GHz |
Nota: A placa-mãe, o cartão de matriz, a placa de forma de onda e a placa de diagnóstico de autocalibração pertencem à configuração padrão do dispositivo e, portanto, não são refletidos nas informações de encomenda.
ES660 Sistema de teste de descarga eletrostática e bloqueio
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